微鏡科技認(rèn)領(lǐng)

采用的全部是美國進(jìn)口Fei高端場(chǎng)發(fā)射電鏡，可以滿足企事業(yè)單位和高校等的各項(xiàng)科研工作。FEI進(jìn)口電鏡，十年經(jīng)驗(yàn)，技術(shù)精湛，SEM二次電子探頭可看形貌，大小，分布。背散射可以看材料襯度像。STEM可看極小納米粒及分布，EDS Mapping可觀面分布。雙束高分辨TEM制樣，原位STEM觀測(cè)，微樣切割。