PICT成對(duì)測(cè)試用例生成器

PICT（Pairwise Independent Combinatorial Testing，成對(duì)獨(dú)立組合測(cè)試）是一個(gè)測(cè)試用例生成工具，它可以生成測(cè)試用例和測(cè)試配置，其理論基礎(chǔ)是成對(duì)測(cè)試技術(shù)（Pairwise Testing）。

成對(duì)測(cè)試是一種有效的測(cè)試用例生成技術(shù)，數(shù)學(xué)統(tǒng)計(jì)分析，大多數(shù)缺陷是由最多兩個(gè)因子的相互作用引起的，73% 的缺陷（單因子是 35%，雙因子是 38%）由單因子或 2 個(gè)因子相互作用產(chǎn)生，19% 的缺陷是由 3 個(gè)因子相互作用產(chǎn)生的。基于這一點(diǎn)，成對(duì)測(cè)試工具針對(duì)性地去涵蓋兩個(gè)因子的所有組合，因此比完全覆蓋所有組合的測(cè)試方案小得多，同時(shí)可以非常有效地發(fā)現(xiàn)缺陷。